該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量，采用模塊化設(shè)計采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合

產(chǎn)品型號：OmniES-Plasma

更新時間：2024-05-20

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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● 該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量，采用模塊化設(shè)計

● 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合

● 可定位測量空間位置（選配功能）

● 測量光譜范圍：200-2500nm或1μm-14μm

● 光譜分辨率：優(yōu)于0.05nm（@1200g/mm光柵）

● 波長準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm

● 波長重復(fù)性：優(yōu)于±0.1nm

● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動測量、數(shù)據(jù)運算、保存及打印等功能

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該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量，采用模塊化設(shè)計 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合